SN74LVTH182504APM

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SN74LVTH182504APM

IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 64-LQFP

  • Hersteller
  • Fr. Teil #SN74LVTH182504APM
  • Paket 64-LQFP
  • Datenblatt
  • Auf Lager5097

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Spezifikationen

Supplier Rochester Electronics, LLC,Texas Instruments
Package Bulk,Tray
Series 74LVTH
ProductStatus Active
LogicType ABT Scan Test Device With Universal Bus Transceivers
SupplyVoltage 2.7V ~ 3.6V
NumberofBits 20
OperatingTemperature -40°C ~ 85°C
MountingType Surface Mount
Package/Case 64-LQFP

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